在处理SAT数据时，需要在工艺仪表读数中校正调整值，4，校准间隔的调节，AMS2750E、GJB509B和GB/T30825给出了不同类别、不同仪表类型的热处理炉工艺温度仪表系统的时间间隔，时间间隔与温度均匀性的允许范围有关，允许偏差越小，间隔越短，时间间隔取决于仪表的类型，可以配置更多的过程温度测量系统，通过相互比较这些测量来验证过程温度的稳定性，如果采用铂电阻、贵金属热电偶和n型等稳定的过程传感器，则可以延长时间间隔。
根据以往工艺温仪系统校准结果的变化，确定是否需要更换工艺传感器，过程温度系统标定方法，AMS2750E、GJB509B和GB/T30825也有类似规定，GJB509B没有给出具体的操作要求，根据不同标准的规定，对过程温度仪表系统进行标定时，应满足以下要求:，热处理炉的等级和同等级的不同温度，AMS2750E和GJB509B、GB/T30825对工艺温度仪表系统的偏差给出了不同的要求，这是判断其是否符合要求的依据。
炉内温度均匀性是否可靠，取决于热处理炉内加热元件的发热特性和工艺温度仪表系统的测控能力，在稳定的控制条件下，加热元件产生的热量和温度分布具有良好的重复性，如果过程温度仪表系统比较稳定，炉温均匀性也会在小范围内变化，zui后的测试结果，有效地实现了过程温度的控制，使用常驻校准传感器存在一定的风险，因为在热处理炉的加热和冷却过程中，任何类型的温度传感器的测量特性都会发生变化，而这种变化无疑会反映在校准结果中，使校准结果不可靠。
