可以使用更长的间隔时间，时间间隔与过程传感器的稳定性有关，5，待校准的工艺温度仪表，对于控制传感器，不仅需要对控制仪表的读数进行校准，还需要对记录仪表进行校准读数是经过校准的，对于附加的系统，如负载热电偶、高温传感器和低温传感器等zui后一次检查确定的有效发热区，则需要对过程温度仪表系统进行校准，校准装置的稳定性、校准方法的合理性和实际操作的规范性都是保证校准结果可靠性的重要环节，数据处理和结果的正确表示也不容忽视。
根据以往工艺温仪系统校准结果的变化，确定是否需要更换工艺传感器，过程温度系统标定方法，AMS2750E、GJB509B和GB/T30825也有类似规定，GJB509B没有给出具体的操作要求，根据不同标准的规定，对过程温度仪表系统进行标定时，应满足以下要求:，热处理炉的等级和同等级的不同温度，AMS2750E和GJB509B、GB/T30825对工艺温度仪表系统的偏差给出了不同的要求，这是判断其是否符合要求的依据。
炉内温度均匀性是否可靠，取决于热处理炉内加热元件的发热特性和工艺温度仪表系统的测控能力，在稳定的控制条件下，加热元件产生的热量和温度分布具有良好的重复性，如果过程温度仪表系统比较稳定，炉温均匀性也会在小范围内变化，zui后的测试结果，有效地实现了过程温度的控制，使用常驻校准传感器存在一定的风险，因为在热处理炉的加热和冷却过程中，任何类型的温度传感器的测量特性都会发生变化，而这种变化无疑会反映在校准结果中，使校准结果不可靠。
