在处理SAT数据时，需要在工艺仪表读数中校正调整值，4，校准间隔的调节，AMS2750E、GJB509B和GB/T30825给出了不同类别、不同仪表类型的热处理炉工艺温度仪表系统的时间间隔，时间间隔与温度均匀性的允许范围有关，允许偏差越小，间隔越短，时间间隔取决于仪表的类型，可以配置更多的过程温度测量系统，通过相互比较这些测量来验证过程温度的稳定性，如果采用铂电阻、贵金属热电偶和n型等稳定的过程传感器，则可以延长时间间隔。
当使用热电偶作为校准传感器时，应使用与传感器和仪表具有相同指标号的校准补偿线，采用热阻作为标定传感器时，引线电阻是需要考虑的关键因素，校准温度的选择，可在热处理过程中进行标定，以工艺温度作为标定温度，使标定工作不影响生产进度，也可单独进行，可选择zui近使用的工艺温度或代表性温度度作为校准温度，为了准确地获得过程温度仪表系统在测量数据处理过程中的偏差，需要根据用于校准的传感器和仪表的校准证书上给出的误差对校准仪表的读数进行校正。
炉内温度均匀性是否可靠，取决于热处理炉内加热元件的发热特性和工艺温度仪表系统的测控能力，在稳定的控制条件下，加热元件产生的热量和温度分布具有良好的重复性，如果过程温度仪表系统比较稳定，炉温均匀性也会在小范围内变化，zui后的测试结果，有效地实现了过程温度的控制，使用常驻校准传感器存在一定的风险，因为在热处理炉的加热和冷却过程中，任何类型的温度传感器的测量特性都会发生变化，而这种变化无疑会反映在校准结果中，使校准结果不可靠。
