在处理SAT数据时，需要在工艺仪表读数中校正调整值，4，校准间隔的调节，AMS2750E、GJB509B和GB/T30825给出了不同类别、不同仪表类型的热处理炉工艺温度仪表系统的时间间隔，时间间隔与温度均匀性的允许范围有关，允许偏差越小，间隔越短，时间间隔取决于仪表的类型，可以配置更多的过程温度测量系统，通过相互比较这些测量来验证过程温度的稳定性，如果采用铂电阻、贵金属热电偶和n型等稳定的过程传感器，则可以延长时间间隔。
3，温度差校正计算，测量数据的采集与处理是过程温度仪表系统一致性判断的重要环节，从工艺温度表和校准表读取数据时，需要满足两个条件:，首先，应在炉温处于稳定状态下进行读数，如果工艺温度表显示值稳定或周期性变化，则表明炉温已达到稳定状态，其次，过程仪表和校准仪表的读数应同时读取，或在zui短的时间内完成读取操作，对于工艺表读数，情况稍微复杂一些，因为工艺表中可能会有仪表校准、工艺温度计系统校准和炉温均匀性测试的调整，从而改变工艺表的读数。
炉内温度均匀性是否可靠，取决于热处理炉内加热元件的发热特性和工艺温度仪表系统的测控能力，在稳定的控制条件下，加热元件产生的热量和温度分布具有良好的重复性，如果过程温度仪表系统比较稳定，炉温均匀性也会在小范围内变化，zui后的测试结果，有效地实现了过程温度的控制，使用常驻校准传感器存在一定的风险，因为在热处理炉的加热和冷却过程中，任何类型的温度传感器的测量特性都会发生变化，而这种变化无疑会反映在校准结果中，使校准结果不可靠。
